高低温冲击试验环境箱满足标准：GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

智能型冷热冲击试验箱满足标准：GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

电子产品冷热冲击试验箱，模拟复杂的温度变化环境，用于测试样品在温度变化环境下的性能变化。

冷热循环冲击测试箱，模拟多种温度变化环境，如冷热冲击、温度湿度冲击、温度湿度循环等，可以用于测试样品在温度变化环境下的性能变化。

可程式高低温冲击试验箱，模拟复杂的温度变化环境，用于测试样品在温度变化环境下的性能变化。