HE-ATS750冷热循环冲击气流测试机

高低温冲击热流仪适用于各类半导体芯片、闪存Flash/EMMC、PCB 电路板IC、光通讯（如收发器 transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）、电子行业等进行IC 特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验。以下，我们将深入探讨高低温冲击热流仪的工作原理、应用领域、技术优势以及技术参数。

 一、工作原理

高低温冲击热流仪的核心在于其能够迅速在温与极低温之间切换，创造出一个温度变化的测试环境。这一过程通常通过两个独立的温度控制区域实现：高温区和低温区。测试样品首先被置于高温区达到预设的高温状态，随后在极短的时间内（通常为几分钟至几十分钟不等），通过快速转移机构（如气动门、机械臂等）将样品移至低温区，反之亦然。这种快速的温度变化模拟了产品在环境下的实际使用情况，如极地探险装备在极寒与日光直射下的快速转换，或是汽车发动机舱内零部件在严寒启动后的高温工作环境。

 二、应用领域

1. 材料科学：研究人员利用高低温冲击热流仪评估新材料的热稳定性，如高分子材料、复合材料及金属合金在温差下的性能变化，为材料改良提供方向。

2. 航空航天：航空航天领域对材料的性能要求极为苛刻，高低温冲击热流仪能够模拟太空中的温差条件，帮助工程师筛选出用于卫星、火箭及飞机部件的材料。

3. 电子电器：随着电子产品的集成度越来越高，散热问题日益突出。高低温冲击热流仪可测试电子元器件在不同温度下的工作稳定性，确保产品在各种环境下都能稳定运行。

4. 汽车工业：汽车发动机舱、电池组及车载电子系统等部件需经受温差考验，高低温冲击热流仪的测试数据对于提升汽车的整体性能至关重要。

 三、技术优势

1. 高精度控温：采用先进的温度控制系统，实现精准的温度控制与快速响应，确保测试结果的准确性。

2. 高效能转移机构：设计优化的快速转移机构，减少样品在转移过程中的温度损失，提高测试效率。

3. 多功能测试平台：集成多种传感器与数据采集系统，可同时进行多项性能测试，如热膨胀系数、热导率、机械强度等。

4. 智能化操作界面：配备直观易用的操作界面与数据分析软件，用户可轻松设置测试参数，快速获取并解读测试结果。

四、技术参数

设备型号： HE-ATS750

温度控制范围： -70℃～+250℃

冲击温度范围： -60℃～+200℃

温度转换时间： ≤10秒

温度偏差： 测试品恒定在-40℃时，温度偏差为±1℃

冲击气流量： 1.9~8.5L/s(分为8路，每路0.23~1.06 L/s）连续气流

温变速率降： RT+10℃降至-40℃≤60s

试品表面温度： RT+10℃降至-40℃约1分钟试品表面温度达到，气体温度与样品温度可选择测控

样品盒尺寸： 直径140mm×高50mm

制冷方式： 采用风冷式HFC环保制冷剂复叠系统，温度可达-70℃

控制系统： 采用进口智能PLC触摸屏控制，7寸彩色屏

试品： 带2套1拖8 系统，金属封装PCB板模块8片

外形尺寸： 宽790×高1600×深1080（mm）以实物为准

使用电源： AC 三相 五线 380V 50/60HZ

噪音： ≤65dB（A声级）

条件： 风冷式环境温度在+23℃时

干燥气源： 用户自备

注：前端空气经干燥过滤器处理，产品测试区及附近无明显结露现象。设备可以连续运转不需进行除霜