耳机扭曲寿命试验机的技术参数

一、说明：

耳机扭曲寿命试验机适用于各种头戴耳机的扭曲寿命测试.

二、应用：

耳机扭曲寿命试验机适用于头戴耳机的扭曲寿命测试，扭曲测试方法为：耳机经左右夹具固定后，同时向相反方向拉伸到一定距离后再同时拉伸到相反方向到开始位置。其测试试行程可设置，经过N次测试后，取下耳机检测头带性能。

三、技术参数：

型号：HE-RJ-10

控制方式：   PLC+触摸屏

测试工位：   3工位（联动）

传动结构：   左右两边同步动作

最小显示位移：  0.01mm

听筒固定板角度：0-45度可调

挂柱测试间距范围： 40～220mm（可调）

测试速度范围：  5～40次/min（可设）

测试行程：   单边各5～150mm

次数设定：   1～99999999（可设）

机台尺寸：   700×450×500mm

机台重量：   42Kg

使用电源： AC 220V 50Hz